Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο TEM,είναι μια τεχνική μικροσκοπίας που χρησιμοποιεί μια δέσμη ηλεκτρονίων αντί για φως καθώς και περίθλαση ακτίνων Χ. Το δείγμα εκτίθεται στη δέσμη, η οποία διέρχεται από αυτήν παράγοντας μια εικόνα με τη βοήθεια ενός ανιχνευτή φθορισμού. Αυτή η τεχνική απαιτεί προετοιμασία δείγματος σε πλέγμα και χαρακτηρίζεται ως τεχνική αποφυγής λόγω απώλειας δείγματος, που καταστρέφεται κατά την ανάλυση.
Μετά την προσπάθεια παραγωγής ενός διαμαντιού, οι ειδικός επικεφαλής ερευνητές ανακάλυψαν μέσω του Raman ότι τα δείγματα αποτελούνταν μόνο από γραφικό υλικό. Ωστόσο, τα μοτίβα περίθλασης ακτίνων Χ έδειξαν διαφορετικό αποτέλεσμα, καταδεικνύοντας την παρουσία λονσδαλεΐτη (12%), διαμαντιού (3%) και γραφίτη (85%). Αυτά τα αποκλίνοντα αποτελέσματα εξηγούνται από διαφορές σε κάθε τεχνική.
Το Raman είναι σε θέση να αναλύσει μόνο την επιφάνεια των υλικών, ενώ η περίθλαση ακτίνων Χ μπορεί να διαπεράσει ολόκληρο το πάχος του δείγματος. Συνολικά, αυτό το αποτέλεσμα αποδεικνύει ότι ο σχηματισμός σκληρών υλικών όπως ένα διαμάντι είναι αποτέλεσμα όχι μόνο της πίεσης και της θερμοκρασίας. Και άλλοι παράγοντες μπορούν να προκαλέσουν σχηματισμό υλικού, όπως η διατμητική τάση ή παράγοντες που η επιστήμη δεν γνωρίζει ακόμη.